輻射抗擾度測(cè)試又稱為輻射敏感度，是基本的EMS測(cè)試項(xiàng)目之一，指各種裝置、設(shè)備或系統(tǒng)，在存在輻射的情況下，抵抗輻射的一種能力。敏感度越高，抗干擾的能力越低。

試驗(yàn)方法和等級(jí)：
表1 試驗(yàn)等級(jí)
 

    1）手機(jī)RS測(cè)試的試驗(yàn)等級(jí)一般為表1中等級(jí)2，即場(chǎng)強(qiáng)3V/M。作為試驗(yàn)設(shè)備，要用1KHz的正弦波對(duì)未調(diào)制信號(hào)進(jìn)行80%的條幅調(diào)制來(lái)模擬實(shí)際情況。

    2）頻率掃描步長(zhǎng)應(yīng)為瞬時(shí)頻率的1%。

    3）試驗(yàn)應(yīng)在80MHZ-1GHZ整個(gè)頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，但發(fā)信機(jī)，收信機(jī)或作為收發(fā)信機(jī)一部分的收信機(jī)的免測(cè)頻段除外。

    4）實(shí)驗(yàn)時(shí)，手機(jī)應(yīng)放置于一個(gè)0.8M高的絕緣試驗(yàn)臺(tái)上。

    5）如果受試設(shè)備的進(jìn)、出線沒(méi)有規(guī)定，則使用非屏蔽平行導(dǎo)線。從受試設(shè)備引出的連線暴露在電磁場(chǎng)中的距離為1M。

    6）受試設(shè)備的連線應(yīng)平行于均勻域布置，以使其處于較敏感的位置。

輻射抗擾度測(cè)試參數(shù)：

測(cè)試配置：

主要測(cè)試設(shè)備：信號(hào)源、功率放大器、定向耦合器、功率計(jì)、發(fā)射天線、EMC測(cè)試軟件等

測(cè)試環(huán)境：電波暗室或開(kāi)闊場(chǎng)

配置示意圖