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SNA5082X/SNA5084XSNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的詳細資料:
SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SNA5082X/SNA5084X
S參數(shù)測量,差分(平衡)測量,時域測量,濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量,支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴展功能,支持極限測試、紋波測試功能,支持夾具仿真和去嵌入功能,支持線性頻率掃描、對數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式,支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法,可廣泛應(yīng)用于濾波器,雙工器,天線,有源器件,射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā),生產(chǎn)制造。
低噪聲,高動態(tài)范圍
系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標(biāo),它是VNA源的大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態(tài)范圍可達125dB@10Hz IFBW,接收機噪底-125 dBm/Hz,可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景,比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
S參數(shù)測試/平衡-不平衡測試
SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數(shù)測試,并且具備多種顯示格式,比如Log Mag,Lin Mag,Smith,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù),反射系數(shù),駐波比,阻抗匹配,相位,延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗證天線,濾波器等的特性時,還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試,有利于提高生產(chǎn)效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能,比如在測試有源差分放大器時,可將輸入輸出端口進行阻抗變換,從而進行差分(平衡)測量(比如Scc,Sdd,Scd,Sdc等參數(shù))。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。
時域分析功能及眼圖功能
在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。
另外,SNA5000X系列還支持TDR時域反射計測量功能,可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗,時延等參數(shù)進行分析。
眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征,從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,進而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。因此,眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心。SNA5000X搭載了眼圖功能,為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。
校準(zhǔn)件
SNA5000X系列包含SNA5052X, SNA5082X, SNA5054X,SNA5084X共4個型號,測量頻率范圍涵蓋9kHz~4.5GHz/8.5GHz,支持2端口和4端口S參數(shù)測量,具備12.1英寸觸摸屏,支持外接鼠標(biāo)鍵盤操作,擁有友好的人機交互界面。相比傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,體積更小,重量更輕,為客戶節(jié)省了大量的實驗室及生產(chǎn)線空間。SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SNA5082X/SNA5084X憑借其豐富的功能及優(yōu)秀的交互體驗,廣泛適用于公司研發(fā),生產(chǎn)制造,研究院所等場景
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